트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), 회수: 2.69GHz, 이득: 20dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 1.2GHz ~ 1.4GHz, 이득: 17dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: HEMT, 회수: 7.9GHz ~ 9.6GHz, 이득: 10.2dB, 전압-테스트: 40V, 현재 등급: 12A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 1.99GHz, 이득: 19dB, 전압-테스트: 30V,
트랜지스터 유형: HEMT, 회수: 3GHz, 이득: 14.5dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2.4GHz, 이득: 15dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: HEMT, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: HEMT, 회수: 4GHz, 이득: 16dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: HEMT, 회수: 0Hz ~ 6GHz, 이득: 14.5dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 1.09GHz, 이득: 32.1dB, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 10µA,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), 회수: 230MHz, 이득: 24dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 1.96GHz, 이득: 19.1dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), 회수: 230MHz, 이득: 27dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 1.3GHz, 이득: 22.7dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), 회수: 2.03GHz, 이득: 16dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: N-Channel, 회수: 2.32GHz, 이득: 14.1dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), 회수: 2.62GHz, 이득: 15dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: N-Channel, 회수: 175MHz, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 40A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 945MHz, 이득: 14.3dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 7A,
트랜지스터 유형: N-Channel, 회수: 175MHz, 이득: 20dB, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 40A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 860MHz, 이득: 18dB, 전압-테스트: 32V, 현재 등급: 18A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 945MHz, 이득: 15dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 1A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 960MHz, 이득: 17.5dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 9A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 500MHz, 이득: 17dB, 전압-테스트: 12.5V, 현재 등급: 2.5A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 945MHz, 이득: 15dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 4A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 960MHz, 이득: 17.2dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 12A,
트랜지스터 유형: N-Channel, 회수: 100MHz ~ 500MHz, 이득: 10dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 1mA,
트랜지스터 유형: HEMT, 회수: 3.1GHz ~ 3.5GHz, 이득: 11.2dB, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 9mA,
트랜지스터 유형: N-Channel, 회수: 30MHz ~ 500MHz, 이득: 16dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 4A,
트랜지스터 유형: N-Channel, 회수: 70MHz, 이득: 17dB, 전압-테스트: 100V, 현재 등급: 10A,
