트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 733MHz ~ 805MHz, 이득: 18.6dB, 전압-테스트: 48V, 현재 등급: 10µA,
트랜지스터 유형: HEMT, 회수: 0Hz ~ 2.5GHz, 이득: 19dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 56A,
트랜지스터 유형: HEMT, 회수: 1.8GHz ~ 2.2GHz, 이득: 18dB, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 12A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 768MHz, 이득: 17.25dB, 전압-테스트: 48V, 현재 등급: 10µA,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2.11GHz ~ 2.17GHz, 이득: 13.5dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 10µA,
트랜지스터 유형: HEMT, 회수: 0Hz ~ 6GHz, 이득: 16dB, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 4.2A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 869MHz ~ 960MHz, 이득: 22.5dB, 전압-테스트: 48V, 현재 등급: 10µA,
트랜지스터 유형: HEMT, 회수: 5.65GHz, 이득: 12dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 1.03GHz ~ 1.09GHz, 이득: 21dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2.4GHz, 이득: 16.5dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2.17GHz, 이득: 18.1dB, 전압-테스트: 30V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2.02GHz, 이득: 17.7dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2.4GHz, 이득: 15dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 960MHz, 이득: 20dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 1.2GHz ~ 1.4GHz, 이득: 17dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 755MHz ~ 805MHz, 이득: 23.6dB, 전압-테스트: 48V, 현재 등급: 10µA,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2.17GHz, 이득: 18.5dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: HEMT, 회수: 18GHz, 이득: 17dB, 전압-테스트: 40V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 1.99GHz, 이득: 19dB, 전압-테스트: 30V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 920MHz ~ 960MHz, 이득: 19dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 10µA,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), 회수: 2.4GHz, 이득: 17dB, 전압-테스트: 30V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2.69GHz, 이득: 18dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 725MHz ~ 770MHz, 이득: 19dB, 전압-테스트: 30V, 현재 등급: 10µA,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2.17GHz, 이득: 17dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 10µA,
트랜지스터 유형: HEMT, 회수: 2.5GHz ~ 2.7GHz, 이득: 15dB ~ 16dB, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 12A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 1.88GHz, 이득: 19dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 960MHz ~ 1.6GHz, 이득: 18.5dB, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 10µA,
