트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2.14GHz, 이득: 17.9dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2.17GHz, 이득: 15.5dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), 회수: 2.5GHz, 이득: 14.1dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), 회수: 2.03GHz, 이득: 16dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), 회수: 230MHz, 이득: 26.5dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 512MHz, 이득: 25.4dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), 회수: 512MHz, 이득: 26dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 1.03GHz, 이득: 20.3dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), 회수: 860MHz, 이득: 22.5dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), 회수: 2.9GHz, 이득: 13.3dB, 전압-테스트: 30V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), 회수: 230MHz, 이득: 24dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 960MHz, 이득: 18dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), 회수: 1.4GHz, 이득: 17.7dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 860MHz, 이득: 21dB, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 20µA,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), 회수: 920MHz, 이득: 19.5dB, 전압-테스트: 48V,
트랜지스터 유형: N-Channel, 회수: 920MHz, 이득: 19dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: N-Channel, 회수: 2.17GHz, 이득: 18.3dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), 회수: 960MHz, 이득: 19.4dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), 회수: 230MHz, 이득: 26.1dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 450MHz, 이득: 20dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), 회수: 2.3GHz, 이득: 14.6dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 1.03GHz, 이득: 19.7dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), 회수: 860MHz, 이득: 22dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), 회수: 1.92GHz, 이득: 16.5dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 960MHz, 이득: 18.6dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 1.3GHz, 이득: 22.7dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2.69GHz, 이득: 16.3dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: N-Channel, 회수: 960MHz, 이득: 16.8dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), 회수: 230MHz, 이득: 25dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 960MHz, 이득: 19dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 860MHz, 이득: 22dB, 전압-테스트: 50V,
