트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 225MHz, 이득: 24dB, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 88A,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 470MHz ~ 860MHz, 이득: 21dB, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 2.8µA,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 860MHz, 이득: 21dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 108MHz, 이득: 23.9dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 1.3GHz, 이득: 17.5dB, 전압-테스트: 32V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2.45GHz, 이득: 18.5dB, 전압-테스트: 32V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 860MHz, 이득: 20.8dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 1.3GHz, 이득: 19dB, 전압-테스트: 32V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 108MHz, 이득: 28dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 600MHz ~ 960MHz, 이득: 21dB, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 1.4µA,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 1.2GHz ~ 1.4GHz, 이득: 21dB, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 2.5A,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 1.81GHz ~ 1.88GHz, 이득: 16.6dB, 전압-테스트: 30V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 1.45Ghz ~ 1.49GHz, 이득: 16dB, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 45A,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), 회수: 957.5MHz, 이득: 35dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), 회수: 1.81GHz ~ 2.17GHz, 이득: 31.5dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 952.5MHz ~ 957.5MHz, 이득: 20.8dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 718.5MHz ~ 765.5MHz, 이득: 20dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 860MHz, 이득: 19dB, 전압-테스트: 40V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 860MHz, 이득: 21dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2.11GHz ~ 2.2GHz, 이득: 15.3dB, 전압-테스트: 32V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), 회수: 2.17GHz, 이득: 28dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 225MHz, 이득: 27.5dB, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 3.6A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 1.3GHz, 이득: 17dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 1.3GHz, 이득: 18dB, 전압-테스트: 32V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), 회수: 2.17GHz, 이득: 32.3dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 2.45GHz, 이득: 13.3dB, 전압-테스트: 28V,
