트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 108MHz, 이득: 27dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 2.7GHz ~ 2.9GHz, 이득: 13dB, 전압-테스트: 32V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 900MHz ~ 930MHz, 이득: 19dB, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 2.8µA,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2.496GHz ~ 2.69GHz, 이득: 15.5dB, 전압-테스트: 30V, 현재 등급: 2.8µA,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2.5GHz ~ 2.7GHz, 이득: 16dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 2.8µA,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 1.2GHz ~ 1.4GHz, 이득: 17dB, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 18A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2.7GHz ~ 3.5GHz, 이득: 12dB,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 108MHz, 이득: 28.5dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 860MHz, 이득: 19dB, 전압-테스트: 40V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2.9GHz ~ 3.4GHz, 이득: 12dB, 전압-테스트: 32V, 현재 등급: 4µA,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 860MHz, 이득: 21dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2.62GHz ~ 2.69GHz, 이득: 17.4dB, 전압-테스트: 32V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 1.03GHz ~ 1.09GHz, 이득: 21.8dB, 전압-테스트: 32V, 현재 등급: 4.2µA,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 1.2GHz ~ 1.4GHz, 이득: 17dB, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 42A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 3.1GHz ~ 3.5GHz, 이득: 12dB, 전압-테스트: 32V, 현재 등급: 4µA,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 1.2GHz ~ 1.4GHz, 이득: 17dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 3.1GHz, 이득: 13dB, 전압-테스트: 32V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 1.2GHz ~ 1.4GHz, 이득: 19dB, 전압-테스트: 32V, 현재 등급: 5µA,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2.3GHz ~ 2.5GHz, 이득: 18dB, 전압-테스트: 10V, 현재 등급: 5µA,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 3.1GHz ~ 3.5GHz, 이득: 15.5dB, 전압-테스트: 32V, 현재 등급: 2.1A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 3.1GHz ~ 3.5GHz, 이득: 13dB, 전압-테스트: 32V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 3.5GHz, 이득: 10dB, 전압-테스트: 32V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 1.03GHz ~ 1.09GHz, 이득: 20dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 49A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 425MHz ~ 450MHz, 이득: 19.5dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 4.2µA,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 225MHz, 이득: 23.5dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2.4GHz ~ 2.5GHz, 이득: 14.4dB, 전압-테스트: 32V, 현재 등급: 2.8µA,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 2.5GHz ~ 2.69GHz, 이득: 14.5dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 860MHz, 이득: 21dB, 전압-테스트: 42V,
