트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 2.7GHz ~ 3GHz, 이득: 12dB, 전압-테스트: 32V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 1.03GHz ~ 1.09GHz, 이득: 17dB, 전압-테스트: 48V, 현재 등급: 72A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 1GHz, 이득: 18dB, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 1.4µA,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 1.805GHz ~ 1.995GHz, 이득: 18.5dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 2.8µA,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 871.5MHz ~ 891.5MHz, 이득: 20dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 49A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 791MHz ~ 960MHz, 이득: 17dB, 전압-테스트: 32V, 현재 등급: 2.8µA,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 2.5GHz ~ 2.69GHz, 이득: 14.3dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 3.1GHz ~ 3.5GHz, 이득: 11dB, 전압-테스트: 32V, 현재 등급: 7.2A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2.45GHz, 이득: 19dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 2.11GHz ~ 2.17GHz, 이득: 19dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 16A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 617MHz ~ 960MHz, 이득: 19.5dB, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 1.4µA,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 718.5MHz ~ 725.5MHz, 이득: 20dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 3.5GHz, 이득: 12dB, 전압-테스트: 32V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 108MHz, 이득: 27dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 860MHz, 이득: 21dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 1.81GHz ~ 1.88GHz, 이득: 15.4dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2.11GHz ~ 2.2GHz, 이득: 15.3dB, 전압-테스트: 32V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 225MHz, 이득: 27.2dB, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 42A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 920MHz ~ 960MHz, 이득: 19.5dB, 전압-테스트: 30V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2.11GHz ~ 2.17GHz, 이득: 18.3dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2.5GHz ~ 2.7GHz, 이득: 18dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 28A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 1.06GHz, 이득: 16.5dB, 전압-테스트: 32V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 1.81GHz ~ 1.88GHz, 이득: 18dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2.5GHz ~ 2.7GHz, 이득: 19dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 3.5A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2.11GHz ~ 2.2GHz, 이득: 19.7dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 1.4µA,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 1.81GHz ~ 1.88GHz, 이득: 16.2dB, 전압-테스트: 32V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2.5GHz ~ 2.7GHz, 이득: 17dB, 전압-테스트: 28V,
