트랜지스터 유형: N-Channel, 회수: 175MHz, 이득: 16dB, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 40A,
트랜지스터 유형: N-Channel, 회수: 175MHz, 이득: 15.8dB, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 20A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 500MHz, 이득: 14.5dB, 전압-테스트: 12.5V, 현재 등급: 7A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 500MHz, 이득: 14dB, 전압-테스트: 12.5V, 현재 등급: 5A,
트랜지스터 유형: N-Channel, 회수: 30MHz, 이득: 23.5dB, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 40A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 945MHz, 이득: 14.5dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 5A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 870MHz, 이득: 17dB, 전압-테스트: 13.6V, 현재 등급: 8A,
트랜지스터 유형: 2 N-Channel (Dual), 회수: 123MHz, 이득: 26.8dB, 전압-테스트: 100V, 현재 등급: 20A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 500MHz, 이득: 11.5dB, 전압-테스트: 7.5V, 현재 등급: 5A,
트랜지스터 유형: N-Channel, 회수: 123MHz, 이득: 24.6dB, 전압-테스트: 100V, 현재 등급: 20A,
트랜지스터 유형: N-Channel, 회수: 175MHz, 이득: 15dB, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 20A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 500MHz, 이득: 17dB, 전압-테스트: 12.5V, 현재 등급: 2.5A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 870MHz, 이득: 15dB ~ 17dB, 전압-테스트: 13.6V, 현재 등급: 8A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 945MHz, 이득: 15dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 7A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 945MHz, 이득: 15dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 1A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2GHz, 이득: 11dB, 전압-테스트: 13.6V, 현재 등급: 5A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 945MHz, 이득: 14dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 4A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 945MHz, 이득: 17.5dB, 전압-테스트: 13.6V, 현재 등급: 7A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 945MHz, 이득: 15dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 5A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 870MHz, 이득: 17dB, 전압-테스트: 13.6V, 현재 등급: 2A,
트랜지스터 유형: N-Channel, 회수: 40.68MHz, 이득: 16.5dB, 전압-테스트: 150V, 현재 등급: 1µA,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 945MHz, 이득: 15dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 4A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 500MHz, 이득: 12dB, 전압-테스트: 7.5V, 현재 등급: 4A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 500MHz, 이득: 15dB, 전압-테스트: 7.5V, 현재 등급: 5A,
트랜지스터 유형: N-Channel, 회수: 123MHz, 이득: 26dB, 전압-테스트: 100V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2GHz, 이득: 11dB, 전압-테스트: 13.6V, 현재 등급: 7A,
트랜지스터 유형: N-Channel, 회수: 175MHz, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 40A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 945MHz, 이득: 14.7dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 7A,
