트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 870MHz, 이득: 16dB, 전압-테스트: 13.6V, 현재 등급: 5A,
트랜지스터 유형: N-Channel, 회수: 175MHz, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 40A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 945MHz, 이득: 14.3dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 7A,
트랜지스터 유형: N-Channel, 회수: 175MHz, 이득: 20dB, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 40A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 860MHz, 이득: 18dB, 전압-테스트: 32V, 현재 등급: 18A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 945MHz, 이득: 15dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 1A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 960MHz, 이득: 17.5dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 9A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 500MHz, 이득: 17dB, 전압-테스트: 12.5V, 현재 등급: 2.5A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 945MHz, 이득: 15dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 4A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 960MHz, 이득: 17.2dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 12A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 870MHz, 이득: 15dB, 전압-테스트: 7.5V, 현재 등급: 2A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 870MHz, 이득: 15dB, 전압-테스트: 7.5V, 현재 등급: 5A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 870MHz, 이득: 17dB, 전압-테스트: 13.6V, 현재 등급: 8A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 870MHz, 이득: 17dB, 전압-테스트: 13.6V, 현재 등급: 2A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 500MHz, 이득: 19dB, 전압-테스트: 12.5V, 현재 등급: 2.5A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 945MHz, 이득: 16.5dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 2.5A,
트랜지스터 유형: N-Channel, 회수: 175MHz, 이득: 14.8dB, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 20A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 870MHz, 이득: 17.3dB, 전압-테스트: 13.6V, 현재 등급: 7A,
트랜지스터 유형: N-Channel, 회수: 175MHz, 이득: 15dB, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 20A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 500MHz, 이득: 16.9dB, 전압-테스트: 12.5V, 현재 등급: 7A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2GHz, 이득: 13.3dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 12A,
트랜지스터 유형: N-Channel, 회수: 30MHz, 이득: 24dB, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 40A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 960MHz, 이득: 17.7dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 9A,
트랜지스터 유형: N-Channel, 회수: 30MHz, 이득: 29dB, 전압-테스트: 100V, 현재 등급: 20A,
트랜지스터 유형: N-Channel, 회수: 150MHz, 이득: 21.3dB, 전압-테스트: 100V, 현재 등급: 10A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 500MHz, 이득: 17dB, 전압-테스트: 12.5V, 현재 등급: 4A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2GHz, 이득: 13.9dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 9A,
