논리-특수 논리

집
논리-특수 논리

SN74GTLP2034DGVR

Texas Instruments

SN74GTLP2034DGVR

부품 재고: 2567

논리 유형: LVTTL-TO-GTLP Adjustable-Edge-Rate Registered Transceiver, 전원 전압: 3.15V ~ 3.45V, 비트 수: 8, 작동 온도: -40°C ~ 85°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 48-TFSOP (0.173", 4.40mm Width),

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Texas Instruments

SN74LS31DRE4

부품 재고: 4896

논리 유형: Delay Element, 전원 전압: 4.75V ~ 5.25V, 비트 수: 6, 작동 온도: 0°C ~ 70°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 16-SOIC (0.154", 3.90mm Width),

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SN74ABTH182652APM

Texas Instruments

SN74ABTH182652APM

부품 재고: 4805

논리 유형: Scan Test Device With Transceivers And Registers, 전원 전압: 4.5V ~ 5.5V, 비트 수: 18, 작동 온도: -40°C ~ 85°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 64-LQFP,

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SN74SSTU32864EZKER

Texas Instruments

SN74SSTU32864EZKER

부품 재고: 2863

논리 유형: 1:1, 1:2 Configurable Registered Buffer, 전원 전압: 1.7V ~ 1.9V, 비트 수: 25, 14, 작동 온도: 0°C ~ 70°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 96-LFBGA,

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Texas Instruments

SN74ACT8990FN

부품 재고: 2188

논리 유형: Test Bus Controller, 전원 전압: 4.5V ~ 5.5V, 비트 수: 16, 작동 온도: 0°C ~ 70°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 44-LCC (J-Lead),

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SN74BCT8373ADWRE4

Texas Instruments

SN74BCT8373ADWRE4

부품 재고: 4597

논리 유형: Scan Test Device with D-Type Latches, 전원 전압: 4.5V ~ 5.5V, 비트 수: 8, 작동 온도: 0°C ~ 70°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width),

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SN74ABT18640DGGR

Texas Instruments

SN74ABT18640DGGR

부품 재고: 2447

논리 유형: Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers, 전원 전압: 4.5V ~ 5.5V, 비트 수: 18, 작동 온도: -40°C ~ 85°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 56-TFSOP (0.240", 6.10mm Width),

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SN74SSTU32866GKER

Texas Instruments

SN74SSTU32866GKER

부품 재고: 2885

논리 유형: 1:1, 1:2 Configurable Registered Buffer with Parity, 전원 전압: 1.7V ~ 1.9V, 비트 수: 25, 14, 작동 온도: 0°C ~ 70°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 96-LFBGA,

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Texas Instruments

SN74ABT8646DL

부품 재고: 6397

논리 유형: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers, 전원 전압: 4.5V ~ 5.5V, 비트 수: 8, 작동 온도: -40°C ~ 85°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width),

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SN74SSTV16857DGVR

Texas Instruments

SN74SSTV16857DGVR

부품 재고: 2482

논리 유형: Registered Buffer with SSTL_2 Compatible I/O for DDR, 전원 전압: 2.3V ~ 2.7V, 비트 수: 14, 작동 온도: 0°C ~ 70°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 48-TFSOP (0.173", 4.40mm Width),

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SN74ABT8543DWRG4

Texas Instruments

SN74ABT8543DWRG4

부품 재고: 5510

논리 유형: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver, 전원 전압: 4.5V ~ 5.5V, 비트 수: 8, 작동 온도: -40°C ~ 85°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width),

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Texas Instruments

SN74FB2033KRCR

부품 재고: 4649

논리 유형: TTL/BTL Registered Transceiver, 전원 전압: 4.75V ~ 5.25V, 비트 수: 8, 작동 온도: 0°C ~ 70°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 52-QFP,

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SN74ABT8646DWRE4

Texas Instruments

SN74ABT8646DWRE4

부품 재고: 4826

논리 유형: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers, 전원 전압: 4.5V ~ 5.5V, 비트 수: 8, 작동 온도: -40°C ~ 85°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width),

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Texas Instruments

SN74ABT8646DWR

부품 재고: 4728

논리 유형: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers, 전원 전압: 4.5V ~ 5.5V, 비트 수: 8, 작동 온도: -40°C ~ 85°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width),

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Texas Instruments

SN74FB1653PCA

부품 재고: 4191

논리 유형: LVTTL/BTL Universal Storage Transceiver with Buffered Clock Line, 전원 전압: 4.5V ~ 5.5V, 비트 수: 17, 작동 온도: 0°C ~ 70°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 100-LQFP Exposed Pad,

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SN74BCT8240ADWRE4

Texas Instruments

SN74BCT8240ADWRE4

부품 재고: 4551

논리 유형: Scan Test Device with Inverting Buffers, 전원 전압: 4.5V ~ 5.5V, 비트 수: 8, 작동 온도: 0°C ~ 70°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width),

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Texas Instruments

SN74FB2040RCG3

부품 재고: 4510

논리 유형: TTL/BTL Transceiver/Translator, 전원 전압: 4.5V ~ 5.5V, 비트 수: 8, 작동 온도: 0°C ~ 70°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 52-QFP,

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Texas Instruments

SN74AS181ADWR

부품 재고: 4569

논리 유형: Arithmetic Logic Unit, 전원 전압: 4.5V ~ 5.5V, 작동 온도: 0°C ~ 70°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width),

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Texas Instruments

SN74S1050DRE4

부품 재고: 7524

논리 유형: Schottky Barrier Diode Bus-Termination Array, 비트 수: 12, 작동 온도: 0°C ~ 70°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 16-SOIC (0.154", 3.90mm Width),

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CD74ACT283M96E4

Texas Instruments

CD74ACT283M96E4

부품 재고: 5266

논리 유형: Binary Full Adder with Fast Carry, 전원 전압: 4.5V ~ 5.5V, 비트 수: 4, 작동 온도: -55°C ~ 125°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 16-SOIC (0.154", 3.90mm Width),

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SN74GTLP22034GQLR

Texas Instruments

SN74GTLP22034GQLR

부품 재고: 2579

논리 유형: LVTTL-TO-GTLP Adjustable-Edge-Rate Registered Transceiver, 전원 전압: 3.15V ~ 3.45V, 비트 수: 8, 작동 온도: -40°C ~ 85°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 56-VFBGA,

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Texas Instruments

SN74ACT8990FNR

부품 재고: 2676

논리 유형: Test Bus Controller, 전원 전압: 4.5V ~ 5.5V, 비트 수: 16, 작동 온도: 0°C ~ 70°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 44-LCC (J-Lead),

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SN74FB2040RCRG3

Texas Instruments

SN74FB2040RCRG3

부품 재고: 4691

논리 유형: TTL/BTL Transceiver/Translator, 전원 전압: 4.5V ~ 5.5V, 비트 수: 8, 작동 온도: 0°C ~ 70°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 52-QFP,

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SN74GTLP22033ZQLR

Texas Instruments

SN74GTLP22033ZQLR

부품 재고: 4689

논리 유형: LVTTL-TO-GTLP Adjustable-Edge-Rate Registered Transceiver, 전원 전압: 3.15V ~ 3.45V, 비트 수: 8, 작동 온도: -40°C ~ 85°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 56-VFBGA,

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SN74ABTH18652APM

Texas Instruments

SN74ABTH18652APM

부품 재고: 4277

논리 유형: Scan Test Device With Transceivers And Registers, 전원 전압: 4.5V ~ 5.5V, 비트 수: 18, 작동 온도: -40°C ~ 85°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 64-LQFP,

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Texas Instruments

SN74BCT8374ANT

부품 재고: 4687

논리 유형: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops, 전원 전압: 4.5V ~ 5.5V, 비트 수: 8, 작동 온도: 0°C ~ 70°C, 장착 유형: Through Hole, 패키지 / 케이스: 24-DIP (0.300", 7.62mm),

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Texas Instruments

SN74ABT8996PW

부품 재고: 7185

논리 유형: Addressable Scan Ports, 전원 전압: 4.5V ~ 5.5V, 비트 수: 10, 작동 온도: -40°C ~ 85°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 24-TSSOP (0.173", 4.40mm Width),

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SN74BCT8244ADWR

Texas Instruments

SN74BCT8244ADWR

부품 재고: 4601

논리 유형: Scan Test Device with Buffers, 전원 전압: 4.5V ~ 5.5V, 비트 수: 8, 작동 온도: 0°C ~ 70°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width),

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SN74ABT18504PMRG4

Texas Instruments

SN74ABT18504PMRG4

부품 재고: 4798

논리 유형: Scan Test Device with Universal Bus Transceivers, 전원 전압: 4.5V ~ 5.5V, 비트 수: 20, 작동 온도: -40°C ~ 85°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 64-LQFP,

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SN74BCT29854DWRE4

Texas Instruments

SN74BCT29854DWRE4

부품 재고: 4596

논리 유형: 8-Bit to 9-Bit Parity Bus Transceiver, 전원 전압: 4.5V ~ 5.5V, 비트 수: 8, 작동 온도: 0°C ~ 70°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width),

위시리스트

SN74ABT8543DWRE4

Texas Instruments

SN74ABT8543DWRE4

부품 재고: 4747

논리 유형: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver, 전원 전압: 4.5V ~ 5.5V, 비트 수: 8, 작동 온도: -40°C ~ 85°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width),

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Texas Instruments

CD40117BNSRG4

부품 재고: 5414

논리 유형: Programmable Terminator, 전원 전압: 3V ~ 18V, 비트 수: 8, 작동 온도: -55°C ~ 125°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 14-SOIC (0.209", 5.30mm Width),

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SN74SSTU32864DGKER

Texas Instruments

SN74SSTU32864DGKER

부품 재고: 2805

논리 유형: 1:1, 1:2 Configurable Registered Buffer, 전원 전압: 1.7V ~ 1.9V, 비트 수: 25, 14, 작동 온도: 0°C ~ 70°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 96-LFBGA,

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SN74ABTE16245DLG4

Texas Instruments

SN74ABTE16245DLG4

부품 재고: 6839

논리 유형: Incident-Wave Switching Bus Transceivers, 전원 전압: 4.5V ~ 5.5V, 비트 수: 16, 작동 온도: -40°C ~ 85°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 48-BSSOP (0.295", 7.50mm Width),

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SN74LVTH182646APM

Texas Instruments

SN74LVTH182646APM

부품 재고: 5490

논리 유형: ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers, 전원 전압: 2.7V ~ 3.6V, 비트 수: 18, 작동 온도: -40°C ~ 85°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 64-LQFP,

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SN74ABT8646DWRG4

Texas Instruments

SN74ABT8646DWRG4

부품 재고: 5464

논리 유형: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers, 전원 전압: 4.5V ~ 5.5V, 비트 수: 8, 작동 온도: -40°C ~ 85°C, 장착 유형: Surface Mount, 패키지 / 케이스: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width),

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