트랜지스터 유형: 2 N-Channel (Dual) Common Source, 회수: 500MHz, 이득: 11dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 15A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2.7GHz, 이득: 18dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 20A,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 860MHz, 이득: 19dB, 전압-테스트: 50V,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 1.03GHz ~ 1.09GHz, 이득: 13dB, 전압-테스트: 36V,
트랜지스터 유형: 2 N-Channel (Dual) Common Source, 회수: 225MHz, 이득: 11.5dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 25A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 1.2GHz ~ 1.4GHz, 이득: 12dB, 전압-테스트: 36V,
트랜지스터 유형: N-Channel, 회수: 28MHz, 이득: 27dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 6A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2.2GHz, 이득: 11dB, 전압-테스트: 26V, 현재 등급: 2.2A,
트랜지스터 유형: N-Channel, 회수: 960MHz, 이득: 7dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 3.5A,
트랜지스터 유형: N-Channel, 회수: 108MHz, 이득: 20dB, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 4A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 전압-테스트: 32V, 현재 등급: 34A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2GHz, 이득: 13.5dB, 전압-테스트: 26V, 현재 등급: 4.5A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 3.4GHz ~ 3.6GHz, 이득: 14dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 3.1A,
트랜지스터 유형: N-Channel, 회수: 500MHz, 이득: 16.5dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 1.5A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 3.4GHz ~ 3.6GHz, 이득: 14dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 16.5A,
트랜지스터 유형: N-Channel, 회수: 108MHz, 이득: 19dB, 전압-테스트: 50V, 현재 등급: 16A,
트랜지스터 유형: 2 N-Channel (Dual) Common Source, 회수: 175MHz, 이득: 18dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 4.5A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2GHz, 이득: 10dB, 전압-테스트: 26V, 현재 등급: 4.5A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 960MHz, 이득: 14dB, 전압-테스트: 26V, 현재 등급: 4.5A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2GHz, 이득: 15.5dB, 전압-테스트: 26V, 현재 등급: 2.3A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 1.93GHz ~ 1.99GHz, 이득: 19dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 18A,
트랜지스터 유형: N-Channel, 회수: 175MHz, 이득: 15.5dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 6A, 노이즈 피겨: 2dB,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 1.81GHz ~ 1.88GHz, 이득: 17.5dB, 전압-테스트: 28V,
트랜지스터 유형: LDMOS (Dual), Common Source, 회수: 917.5MHz ~ 962.5MHz, 이득: 22dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 64A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 922.5MHz ~ 957.5MHz, 이득: 22.5dB, 전압-테스트: 32V, 현재 등급: 39A,
트랜지스터 유형: N-Channel, 회수: 500MHz, 이득: 11.5dB, 전압-테스트: 12.5V, 현재 등급: 1.5A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 3.4GHz ~ 3.6GHz, 이득: 13dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 34A,
트랜지스터 유형: LDMOS, 회수: 2.11GHz ~ 2.17GHz, 이득: 18dB, 전압-테스트: 28V, 현재 등급: 36A,
